U kunt er zeker van zijn dat u E4991B-impedantieanalyzers in onze fabriek koopt. De E4991B-impedantieanalyzer met een frequentiebereik van 1 MHz tot 3 GHz, 0,65% basisnauwkeurigheid over een breed impedantiebereik, materiaalmeetopties voor analyse van temperatuurkarakteristieken en directe leesfunctie van permittiviteit en permeabiliteit.
U kunt er zeker van zijn dat u E4991B-impedantieanalyzers in onze fabriek koopt. E4991B Impedantieanalysator 1 MHz - 3 GHz
De Keysight E4991B impedantieanalysator is de perfecte oplossing voor het karakteriseren en evalueren van elektronische componenten, halfgeleiderapparaten en materialen.
Drie opwaardeerbare frequentieopties: 1 MHz tot 500 MHz/1 GHz/3 GHz
Basisnauwkeurigheid ±0,65% en 120 mΩ tot 52 kΩ impedantiebereik (10% meetnauwkeurigheidsbereik)
Meetparameters: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1 (1. Optie 001 is vereist)
Ingebouwde DC-voorspanning (optie 001): 0 V tot ±40 V, 0 A tot ±100 mA
4-kanaals en 4-sporen op 10,4-inch kleuren-LCD met touchscreen
Gegevensanalysefunctie: gelijkwaardige circuitanalyse, limietlijntest
Diëlektrische/magnetische materiaalmeting (optie 002): |εr|, εr', εr'', tanδ(ε), |μr|, μr', μr'', tanδ(μ)
Meting van temperatuurkarakteristieken (optie 007) en betrouwbare metingen op de wafer (optie 010).
Materiaalmetingsopties bieden analysemogelijkheden voor temperatuurkarakteristieken (optie 007) en directe leesfunctie van permittiviteit en permeabiliteit (optie 002).
Verbindingskit voor sondestation (optie 010) biedt een nauwkeurige oplossing voor impedantiemeting op wafers of microcomponenten tot 3 GHz.
De E4991B ondersteunt een breed scala aan testaccessoires die zijn ontworpen om metingen eenvoudig en betrouwbaar te maken.
Of u zich nu bezighoudt met R&D, QA of inspectie, de E4991B is een ideale oplossing voor het karakteriseren en evalueren van elektronische componenten, halfgeleiderapparaten en materialen.
Voor materiaalmetingen werkt de E4991B met de materiaalmeetsuite N1500A-005 en biedt eenvoudige metingen (tot 1 GHz), van het opzetten van armaturen tot het genereren van rapporten.
| Aanvullende informatie: | RF IV, geschikt voor nauwkeurige impedantie-evaluatie Equivalente circuitanalyse (7 modellen) Materiaalafm. (opt. 002) Temperatuurkarakteristiektest (opt. 007) On-wafer impedantiemeting. met sondestation (optie 010) 4 kanalen, 4 sporen |
| Basisnauwkeurigheid: | 0,65% |
| DC-bias: | 0 V tot ±40 V, 0 A tot ±100 mA (optie 001) |
| Frequentie: | 1 MHz tot 500 MHz/1 GHz/3 GHz |
| Maximale frequentie: | 3 GHz |
| Meting: | RF-IV-methode |
| Meetbereik (nauwkeurigheid < 10%): | 120 mΩ tot 52 kΩ |
| Andere kenmerken: | Equivalente circuitanalyse, grenslijntest, etc. Meting van diëlektrische/magnetische materialen (optie 002), Meting van temperatuurkarakteristieken (optie 007), |
| Speciale kenmerken: | n.v.t |
| Doel DUT: | Apparaat voor algemeen gebruik Materiaal |
| Type: | Impedantie-analysator |
